デバイスのBSDLファイルはそのようにして入手するのでしょうか？

一般的に半導体メーカーから供給されます。またはメーカーのホームページ等に掲載されています。

BSDLの間違いはScanWorksでチェックできるのでしょうか？

ASSET-InterTech社がWEBサイトに検証済みのBSDLを掲載しています。またBSDLはScanWorksで読み込む際に構文チェックが行われます。">しかし、実際のデバイスと照合するわけではないのでピン配置やセルの順番等は検証できません。

クラスタのモデルはユーザが記述可能なのでしょうか？

ASSET-InterTech社がWEBサイトにダウンロード可能なライブラリを用意しています。ユーザの要求に応じてモデルの作成も行っています。また、文法や構文もマニュアルに記載されていますのでユーザが作成することも可能です。

日本語はサポートされていますか？

ScanWorksのフレームワーク内では英語表示ですがスクリプティングやScanWorksAPIを利用すれば日本語の表示による試験結果の表示等が可能になります。

回路規模やスキャンチェーンの長さ等に制限はありますか？

ありません。但し、試験生成の時間は規模と搭載されるメモリ量に大きく影響します。

試験の生成と実行時間はどの程度ですか？

試験の生成は回路規模によりますが数分程度です。試験の実行はエラーがない場合は数秒です。エラーがあった場合、その解析時間が数十秒程度追加で掛かります。

データの作成は簡単にできるのでしょうか？また外部に作成をお願いすることはできますか？

基本的には数時間で可能な作業ですが、慣れがある程度必要です。また検出率の向上にはある程度の回路技術と熟練が必要です。弊社でもデータ作成をお受けできます。